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ZEISS Sigma? 場發(fā)射掃描電子顯微鏡

描述:ZEISS Sigma? 場發(fā)射掃描電子顯微鏡利用成熟的 Gemin 電子光學元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間:設置成像與分析步驟,提高效率。

更新時間:2025-04-03
訪問次數(shù):225
廠商性質(zhì):代理商
詳情介紹

ZEISS Sigma 場發(fā)射掃描電子顯微鏡用于高品質(zhì)成像與分析的葬司場發(fā)射掃描電子顯微鏡

靈活的探測測,4步工作流程的分析性能

將的分析性能與場發(fā)射掃描技術相結合,利用成熟的 Gemin 電子光學元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間:設置成像與分析步驟,提高效率。

Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測器,可快速方便地實現(xiàn)基礎分析。任何時間,任何樣品均可獲得精準可重復的分析結

即刻聯(lián)系蔡司了解更多有關 Siqma 系列產(chǎn)品的信息!

靈活的檢測器選項,獲取清晰圖像

更用新穎的ETSE和Inlens探測器在高真空下獲取高分辨率表面形貌信息,

使用VPSE或C2D檢測器在可變壓力模式下獲得清晰圖像。

使用aSTEM檢測器生成高分辨率透射圖像。

使用HDBSD或YAG檢測器分析成分。

用戶友好,操作簡單

SmartSEM Touch是現(xiàn)已有操作系統(tǒng)的附加組件,用于多用戶環(huán)境,是一種簡潔的用戶界面它同時為操作經(jīng)驗豐富的專家用戶和初級用戶提供了簡便的操作。

基于實際的實驗室環(huán)境,SEM的操作可能是電子顯微鏡專家的專領域。但是,非專業(yè)用戶(例如學生,接受培訓不久的人員或質(zhì)量工程師)也需要使用SEM獲取數(shù)據(jù),因此也有使用SEM的需求。 Sigma 300和Sigma300 VP將非專業(yè)用戶的需求考慮在內(nèi),其用戶界面選項可滿足操作經(jīng)驗豐富的顯微鏡專家和顯微鏡新手用戶的操作需求。

特點:

ZEISS Sigma 場發(fā)射掃描電子顯微鏡用于清晰成像的靈活探測

利用先進探測術為您的需求走制 Siqma,表征所有樣品

利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。

利用新一代的二次探測器,獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Siama 創(chuàng)新的C2D 和 可變壓力探測器,在低真空環(huán)境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。

ZEISS Sigma? 場發(fā)射掃描電子顯微鏡

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